电子零件和半导体行业解决方案
Electronics & Semiconductor Solutions
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电子零件和半导体行业解决方案
Electronics & Semiconductor Solutions可以瞬间检测出线圈的绕圈开始、绕圈结束的错误。
要点
· 使用LCR测试仪IM3523的相位测量功能,可以瞬间检测出线圈的绕圈开始、绕圈结束的错误。而且,通过测量阻抗,可以检查触电、生产品和对比品的位置关系,这样能进行更加可靠的检查。
●对比品(精选线圈:也可以是生产品)连接LCR测试仪IM3523的Lpot、Hpot端子。
●将Lcur、Hcur端子连接希望检查卷线开始、卷线结束的生产品。这时,为了容易产生磁性结合,请将对比品和生产品放得的尽量靠近。LCR测试仪IM3523的测量项目设为θ(相位)和Z(阻抗)。
●由于生产品的泄漏磁通量,对比品会产生诱导电压。
●若生产品的卷线开始、卷线结束存在错误,则对比品所产生的电压的相位极性会和正常品有差别。利用 这点,可以检测出卷线开始、卷线结束的错误。
●生产品和LCR测试仪IM3523的接触不良、和对比品的位置差异不同的话,则有时也可能无法正常检测出泄漏磁通量。通过以正常测量时的阻抗为标准,检测出和其的差异,可以确认接触检查和位置关系。
※泄漏磁通量较少时,需要在初期阶段时进行增加对比品的阻抗,增大磁性结合等的调整。
使用仪器